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產品詳情

  • 產品名稱：線掃描測厚儀離線式 Otsuka大冢

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產品價格：0
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簡單介紹：
是一種可以方便地離線檢測面內膜厚不均勻性的設備，用于膜的研發和質量控制的抽檢。 可以高速且高精度地測量整個表面。
詳情介紹：
  • 可檢測薄膜等面內膜厚不均
  • 可以高速高精度地測量整個表面
  • 只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
  • 通過光譜測量進行高精度膜厚測量
  • 硬件和軟件的原創設計
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