成人性做爰片免费视频丨曰批免费视频播放免费丨久久久久国产精品免费免费搜索丨日韩av在线观看免费丨四虎亚洲精品高清在线观看

產(chǎn)品中心
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)?，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
  • ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000S分子粒徑量測系統(tǒng) 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng)ZETA電位Otsuka大塚ELSZ-2000Z分子粒徑量測系統(tǒng) 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell
  • ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 ELSZ-2000 ELSZ-2000ZETA電位_Otsuka大塚分子粒徑量測系統(tǒng)ELSZ-2000 此設備可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。 粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，*小容量是130μL～的一次性cell。 另，在0～90℃的大的溫度范圍內(nèi)，測量自動溫度的梯度空間，分析変性?相轉(zhuǎn)移溫度
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 OPTM顯微分光膜厚儀 OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚_OPTM-A2
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚
  • 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色濾光片分光特性測量裝置OTSUKA大冢LCF SERIES
  • 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200
  • 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000
  • OTSUKA大冢液晶層間隙量測設備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測設備RETS series OTSUKA大冢液晶層間隙量測設備RETS series
  • 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜?光學材料檢查設備RETS-100
  • 日本大冢高速配光測量系統(tǒng)GP-7 日本大冢高速配光測量系統(tǒng)GP-7 日本大冢高速配光測量系統(tǒng)GP-7
  • 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000 日本大冢分光配光測量系統(tǒng)GP-4000
    • 上一頁下一頁

蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號